半导体测试老化测试母板(电容)-鼎纪电子
来源:鼎纪电子PCB 发布日期
2023-02-24 浏览:
半导体测试老化测试母板是一款适用于半导体测试老化测试的母板。它采用高TG170材料,内外2OZ沉金,使用寿命更长,可以在高温环境下使用,具有更高的耐磨性和耐腐蚀性,可以有效保证测试数据的准确性和可靠性。它还具有良好的电气性能,耐用性和耐热性,能够更好地满足客户的需求。因此,半导体测试老化测试母板可以满足消费者对半导体测试老化测试的需求,是研发、维修、测试等行业不可或缺的重要产品。
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